射频磁控溅射制备CuAlO2薄膜及性能表征 (2012年)

时间:2024-05-27 08:01:43
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文件名称:射频磁控溅射制备CuAlO2薄膜及性能表征 (2012年)

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更新时间:2024-05-27 08:01:43

自然科学 论文

利用Al(OH)3和Cu2O高温固相反应烧结制备的靶材,采用射频磁控溅射法,在玻璃基片上制备非晶CuAlO2薄膜.薄膜的表面均匀,颗粒大小约为50 nm,可见光范围内透射率为60%,平均折射率达2.0,直接带隙为3.86 eV.随着在紫外光源下曝光时间的增加,薄膜的接触角从96.3°减小到87.5°,薄膜仍呈现出良好的疏水性.


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