高反射硅镜弱吸收的研究

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文件名称：高反射硅镜弱吸收的研究

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更新时间：2024-03-03 01:31:27

表面热透 原子力显 弱吸收 surface t

运用表面热透镜技术精确测量1315nm高反射硅镜的弱吸收,并结合原子力显微镜所显示的薄膜表面情况判断引起吸收的原因,为工艺上减少吸收降低损耗提供测量保证.