耐高温硅隔离压阻力敏芯片的研究 (2010年)

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文件名称：耐高温硅隔离压阻力敏芯片的研究 (2010年)
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更新时间：2021-05-07 03:20:12
工程技术 论文 采用微型机械电子系统技术制作出了具有高精度、高频响特点的耐高温硅隔离压阻力敏芯片．根据压阻力敏芯片的版图设计结构，基于弹性薄板小扰度弯曲理论计算分析了压阻力敏芯片的结构尺寸和固有频率．采用静电键合工艺将压阻力敏芯片封装在硼硅玻璃环上，形成倒杯式弹性敏感单元，通过有限元仿真分析了玻璃环对压阻力敏芯片性能的影响．根据温度实验数据及计算结果，得到压阻力敏芯片各温度点的热零点漂移的绝对值均小于0.02％FS・℃-1，说明该压阻力敏芯片的准确度等级优于0.1％FS・℃-1，且零点稳定性好．