集成电路面试必备之可测性设计的Rombist

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文件名称：集成电路面试必备之可测性设计的Rombist

文件大小：912KB

文件格式：PDF

更新时间：2024-07-26 22:21:12

集成电路可测试性

随着半导体工艺的发展，可测性技术成为每个芯片在设计中必须考虑的问题，如何高效和高质量的测试芯片中的内嵌Memory，成为DFT技术中的关键技术，本文针对rombist中的memory model的产生算法和结果做一个分析和总结，实际案例的具体分析和技术，希望对大家的面试和工作有帮助。