基底偏压对氮化硼薄膜场发射特性的影响 (2005年)

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文件名称:基底偏压对氮化硼薄膜场发射特性的影响 (2005年)

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更新时间:2024-06-04 01:52:03

自然科学 论文

利用射频磁控溅射方法,在n型(100)si(0.008~0.02Ω·m)基底上沉积了氮化硼(BN)薄膜。红外光谱分析表明,BN薄膜结构均为六角BN(h-BN)相。在超高真空系统中测量了BN薄膜的场发射特性,发现BN薄膜的场发射特性与基底偏压关系很大,阈值电场随基底偏压的增加先增加后减小。基底偏压为一140V时BN薄膜样品场发射特性要好于其他样品,阈值电场低于8V/μm。F~N曲线表明,在外加电场的作用下,电子隧穿BN薄膜表面势垒发射到真空。


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