Cd/Zn气氛退火过程中CdZnTe晶体内Te夹杂的迁移研究 (2014年)

时间:2021-05-18 07:59:56
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文件名称:Cd/Zn气氛退火过程中CdZnTe晶体内Te夹杂的迁移研究 (2014年)
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更新时间:2021-05-18 07:59:56
工程技术 论文 通过红外透过成像研究了Cd/Zn气氛退火过程中Cd0.9Zn0.1Te:In晶体内Te夹杂的密度及尺寸分布的演变。结果发现,Cd/Zn气氛退火前,晶体中的Te夹杂密度分布比较均匀;退火后,晶体高温端近表面区域的Te夹杂密度较退火前提高了1个数量级,而晶体内部的Te夹杂密度则较退火前降低了1个数量级,且其密度沿温度梯度方向逐渐增加。退火前,晶体表面和内部的Te夹杂的直径主要分布在1~25μm;退火后,在晶体表面,直径<45>25μm的Te夹杂密度显

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