纤锌矿型GaN电子迁移率的计算 (2005年)

时间:2024-06-20 06:15:46
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文件名称:纤锌矿型GaN电子迁移率的计算 (2005年)

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更新时间:2024-06-20 06:15:46

自然科学 论文

考虑了对纤锌矿型氮化镓低场电子输运影响最为显著的4种散射机制--电离杂质散射,极化光学波散射,声学波压电散射和声学声子形变势散射的单个平均动量驰豫时间,采用Mattiessens rule计算了不同补偿率以及不同载流子浓度条件下,氮化镓电子漂移迁移率,霍耳因子以及霍耳迁移率随温度的变化。计算表明,温度小于200K时总霍耳因子随温度的增加而增加,200K时达到峰值1.22,温度大于200K后霍耳因子则随着温度的增大而减小。此外,在包括室温在内的较高温度下,极化光学波散射对电子迁移率的变化起决定作用。温度较低


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