Ti缓冲层对ZnO薄膜吸收特性和荧光光谱的影响* (2012年)

时间:2024-06-07 02:46:45
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文件名称:Ti缓冲层对ZnO薄膜吸收特性和荧光光谱的影响* (2012年)

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更新时间:2024-06-07 02:46:45

工程技术 论文

采用射频磁控溅射法在Si衬底和玻璃衬底上制备了ZnO/Ti薄膜,利用紫外一可见分光光度计和荧光分光光度计等技术表征了ZnO/Ti薄膜的光学特性,研究了Ti缓冲层的厚度对ZnO薄膜的影响。透射吸收光谱显示所有ZnO薄膜在可见光区域的平均透过率超过80%,当引入缓冲层后,薄膜的紫外吸收边先向长波方向移动,且随着缓冲层厚度的增加紫外吸收边向短波方向移动。薄膜的荧光光谱显示,所有样品出现了位于390nm的紫外发光峰,435和487nm的蓝光双峰以及525nm的绿光峰,并对各发光峰的来源进行了探讨。


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