文件名称：Ti缓冲层对ZnO薄膜吸收特性和荧光光谱的影响* (2012年)
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更新时间：2024-06-07 02:46:45
工程技术 论文
采用射频磁控溅射法在Si衬底和玻璃衬底上制备了ZnO／Ti薄膜，利用紫外一可见分光光度计和荧光分光光度计等技术表征了ZnO／Ti薄膜的光学特性，研究了Ti缓冲层的厚度对ZnO薄膜的影响。透射吸收光谱显示所有ZnO薄膜在可见光区域的平均透过率超过80％，当引入缓冲层后，薄膜的紫外吸收边先向长波方向移动，且随着缓冲层厚度的增加紫外吸收边向短波方向移动。薄膜的荧光光谱显示，所有样品出现了位于390nm的紫外发光峰，435和487nm的蓝光双峰以及525nm的绿光峰，并对各发光峰的来源进行了探讨。