基于BOE硅腐蚀现象的硅纳米线制作* (2007年)

时间:2024-05-29 13:01:01
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文件名称:基于BOE硅腐蚀现象的硅纳米线制作* (2007年)

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更新时间:2024-05-29 13:01:01

工程技术 论文

介绍一种硅纳米线制作方法.在SOI顶层硅上制作硅纳米梁,通过离子注入形成pnp结构,利用新发现的没有特殊光照时BOE溶液腐蚀pn结n型区域现象,结合BOE溶液氧化硅腐蚀,实现硅纳米线制作.制作完全采用传统MEMS工艺,具有工艺简单,成本低,可控,可靠性好,可批量制作等优点.利用该方法制作出了厚50 nm,宽100 nm的单晶硅纳米线,制作的纳米线可用于一维纳米结构电学性能研究、谐振器研究等.


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