文件名称：VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES
文件大小：7.53MB
文件格式：PDF
更新时间：2014-03-16 23:48:33
VLSI, TEST
VLSI testing经典书籍,详细介绍了fault simulation, BIST,test pattern generation, Boundary scan等等
VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES
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网友评论
- 经典之作 谢谢
- 非常好的书，很经典！
- 好书，找了好久，终于找着了
- 书很经典，看起来很清晰。
- 经典之作 很有帮助
- DFT经典，非常适合初学者。