VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

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文件名称：VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

文件大小：5.66MB

文件格式：PDF

更新时间：2014-03-30 10:39:26

VLSI Test Principles and Architectures

一本很好的关于VLSI测试的书，英文版相当不错，推荐给大家！