DFT经典资源VLSI Test ptinciples and architectures design for testability

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文件名称：DFT经典资源VLSI Test ptinciples and architectures design for testability

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更新时间：2022-04-21 14:11:16

DFT scan c

介绍了经典的DFT知识，包括scan chain，boundary test，BIST。