文件名称：VLSI Test Principles and Architectures
文件大小：4.98MB
文件格式：PDF
更新时间：2015-09-05 11:45:05
VLSI DFT
DFT领域一本不错的参考书。中国人写的英文书。
VLSI Test Principles and Architectures
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网友评论
- VLSI test方面的经典书籍，内容很丰富，DFT, scan, ATGP, BIST, BISR, JTAG都有。*大牛写的英文书。清晰pdf
- 谢谢，测试经典书籍哦
- 不知道怎么用，只能表示感谢了
- 上课用的教程，很有用
- 谢谢 很清晰英文原版，很好
- 就是我要找的，pdf挺清晰地，中文版的可以买到。
- 不是全部，后面有一张是没有的
- 很清晰英文原版，很好