文件名称：补充分测验对高成就学生WISC IQ分数的影响
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更新时间：2024-07-19 15:13:26
学术 论文
补充分测验对高成就学生 WISC IQ 分数的影响 补充分测验对高成就学生 WISC IQ 分数的影响 ANN W. ENGIN JEAN C. GEIS 俄亥俄州立大学托莱多（俄亥俄）公立学校 JANE D. WALLBROWN Warthington (俄亥俄州) 公立学校 Wechsler (1949) 关于添加补充 WISC 子测试的评论的有效性对 20 名五年级学生进行了调查。 skudy 的设计类似于 Engin (1974) 的设计，该研究调查了补充 WISC 子测试，数字跨度和迷宫中的一个或两个的添加是否对五年级成绩优异的科目获得的智商产生重大影响。 WISC 的所有 12 项子测试都是单独对学生进行的，然后以可以进行特定比较的方式计算智商。 这些比较是在由最大数量的子测试组成的语言、表现和全面智商之间进行的，以及不包括数字跨度、迷宫或两个子测试的语言、表现和全面智商之间的。 使用了相关平均值的 2' 检验并显示了非常显着的差异。 在 WISC 电池中添加数字跨度和迷宫有助于降低成绩优异的学生的语言、表现和全面智商。 该研究用于验证 Engin (1974) 之前的调查