文件名称：用于时序电路中桥接故障的 IDDQ 测试的静态测试压缩
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更新时间：2024-07-19 11:25:17
学术 论文
时序电路桥接故障的 IDDQ 静态测试压缩 时序电路桥接故障的 IDDQ 静态测试压缩 爱媛大学计算机科学系 Yoshinobu Higami 系，日本松山 790-8577 Kewal K. Saluja 电气与计算机工程系, 威斯康星大学麦迪逊分校，威斯康星州麦迪逊市 53706 日本爱媛大学计算机科学系 Yuzo Takamatsu 790-8577 Kozo Kinoshita 工程研究生院，大阪大学，日本吹田 565-0871时序电路 IDDQ 测试的压缩方法。 测试压缩减少了测试应用时间和测试仪内存，从而降低了测试成本。 特别是对于 IDDQ 测试，IDDQ 的测量非常耗时，因此测试压缩是一个非常重要的问题。 在所提出的方法中，通过考虑被测电路的状态转换，测试子序列被移除并替换为更短的子序列，从而保证原始故障覆盖。 ISCAS 89 基准电路的实验结果证明了所提出方法的有效性。 :copyright: 2000 Scripta Technica, Syst Comp Jpn, 31(11): 41 50, 2000 关键词：IDDQ 测试； 时序电路； 测试压实； 桥接故障