文件名称:详解IDDQ测试
文件大小:708KB
文件格式:PDF
更新时间:2024-07-26 21:48:56
IDDQ集成电路测试
基于稳态电流测试方法的IDDQ测试,因其故障覆盖率高,在集成电路中测试中得以广泛应用。IDDQ测试的概念比较简单,但实现并不容易,特别是当今SOC和深亚微米技术的影响使得其实现更为复杂,有必要作以全面、系统化的研究。
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IDDQ集成电路测试
基于稳态电流测试方法的IDDQ测试,因其故障覆盖率高,在集成电路中测试中得以广泛应用。IDDQ测试的概念比较简单,但实现并不容易,特别是当今SOC和深亚微米技术的影响使得其实现更为复杂,有必要作以全面、系统化的研究。