基于ATE的IC测试原理方法及分析

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文件名称：基于ATE的IC测试原理方法及分析
文件大小：392KB
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更新时间：2014-05-01 16:54:13
基于ATE的IC测试 介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括电气特性测试原理和功能测试原理，详细地介绍了通 用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常 见的故障分析