基于ATE的SoC射频测试技术

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文件名称：基于ATE的SoC射频测试技术
文件大小：3.88MB
文件格式：PDF
更新时间：2018-12-21 16:42:05
ATE(Automatic Test Equipment：自动测试设备)测试，即采用相关的ATE设备，开发相对应的测试程序进行测试，此测试程序往往仅包含必要的系统级的测试项目，它主要用于芯片的量产测试。SoC芯片射频部分的测试由于牵扯到射频信号的完整性和电磁兼容以及基带算法复杂多样等问题，往往成为SoC芯片测试的难点。