IC基本测试原理

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文件名称：IC基本测试原理

文件大小：155KB

文件格式：DOC

更新时间：2015-09-20 16:48:21

集成电路

器件测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件下能完全实现设计规格书所规定的功能及性能指标。用来完成这一功能的自动测试设备是由计算机控制的。