文件名称：电子束注入对多孔硅吸杂效果的影响* (2014年)
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更新时间：2024-06-07 01:47:45
工程技术 论文
研究了电子束注入对多孔硅吸杂效果的影响。采用电化学腐蚀方法利用双电解槽在单晶硅片上制备多孔硅。电子束注入以后多孔硅的微观形貌发生了变化，通过3 min的电子束注入处理，硅片的电阻率发生了明显的改变，大于相同条件下经过快速热处理的硅片的电阻率，这充分证明了电子束注入有热效应与电场效应的双重作用，对去除杂质B有一定的效果。电子束注入时间对去除杂质的效果有一定的影响。