晶体的杂散阻抗对晶体测量参数的影响 (2008年)

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文件名称：晶体的杂散阻抗对晶体测量参数的影响 (2008年)

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更新时间：2024-05-17 02:18:40

工程技术 论文

仿真分析了在π网络测量法中，直插式晶体元件的引线电感和接触电阻对晶体元件参数测量的影响，以及晶体元件的寄生响应对测量的影响。分析结果表明，接触电阻和引线电感对串联谐振频率的影响较小，接触电阻对谐振电阻的大小有直接的影响，主模和寄生响应间隔与晶体参数的测量误差成正比。