文件名称：掺杂Gd2O3对ZrO2薄膜负非均匀性的影响 (2009年)
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更新时间：2024-06-18 02:48:05
工程技术 论文
ZrO2膜层具有明显的负非均匀性,严重影响了在光学薄膜制备中的应用,特别是对多层增透膜有明显的影响。通过对膜层微观结构及生长成核过程的研究,揭示了ZrO2膜层负非均匀性产生的原因及特点。基于此,在ZrO 膜料中掺如一定量的Gd2O3膜料,在电子柬蒸发和适当的真空度、淀积速率、基底温度等工艺条件下,明显地降低了ZrO2膜层折射率的负非均匀性,从而提高ZrO2膜层光学使用性能。