纳米羟基磷灰石的精氨酸表面修饰及其与基因的结合性能 (2010年)

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文件名称：纳米羟基磷灰石的精氨酸表面修饰及其与基因的结合性能 (2010年)
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更新时间：2021-05-23 22:48:19
工程技术 论文 采用水热合成法制备经精氨酸表面修饰的羟基磷灰石纳米颗粒(arg-nHAP)。利用透射电镜(TEM)、Zeta电位分析仪、傅立叶红外光谱仪和x射线衍射(XRD)对Arg-nHAP的形貌、结构、晶粒粒径和zeta电位进行表征，并将其与质粒DNA(pEGFP-N1)进行凝胶电泳实验，研究Arg-nHAP对基因的结合和保护性能。结果表明：制备的 Arg-nHAP粒径较均匀，约为50 nm～80 nm，分散性良好；在pH=7．4时，纳米颗粒的表面净电荷均值为30．89 mV，可与带负电荷的质粒DNA通过静电结合快速