文件名称：掺Ag离子的纳米CdTe薄膜的结构和电性能研究 (2009年)
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更新时间：2024-05-11 13:23:17
自然科学 论文
采用射频(R．F．)磁控溅射在陶瓷(Al2O3)衬底上制备出了纳米晶CdTe薄膜，常温下将薄膜样品浸泡到 AgNO3水溶液后，在真空380 ℃下退火60 min获得Ag离子掺杂的样品．利用X射线衍射(XRD)和场发射扫描电镜(FESEM)对掺杂前后薄膜的晶体结构、外貌形态进行了表征．利用扫描电镜配备的能量色散谱仪(EDS)对薄膜化合物元素组成进行定量分析，并使用HMS-3000型霍耳效应测试测定薄膜电导等电学参数．