数字集成电路失效分析方法与技术的研究

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文件名称：数字集成电路失效分析方法与技术的研究

文件大小：2.09MB

文件格式：PDF

更新时间：2014-03-01 14:48:03

可靠性设计

详细讨论了CPU、ATD、RAM、ROM等主模块的原理、结构和测试方式,并且进行了大量的实际失效分析,以典型案例来说明数字集成电路的失效分析方法.