集成电路失效分析方法与技术探究

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文件名称：集成电路失效分析方法与技术探究

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更新时间：2024-07-27 07:17:06

集成电路芯片

集成电路的应用十分广泛,随着集成电路向着更小工艺尺寸,更高集成度方向发展,集成电路失效分析扮演着越来越重要的角色。一块芯片上集成的器件可达几千万,要想找到失效器件实属大海捞针,因此进行集成电路失效分析必须具备先进、准确的技术和设备,并由具有专业知识的半导体分析人员开展分析工作。