文件名称：改善放大器噪声性能的SiGe HBT几何参数优化设计 (2012年)
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更新时间：2024-06-03 03:57:35
工程技术 论文
研究有源器件SiGe HBT的几何参数对单片低噪声放大器(LNA)噪声性能的影响.基于0.35μmSiGe BiCMOS工艺,研制了4款采用不同几何参数的SiGe HBT LNA.实验结果显示,在给定的偏置条件下,当发射极宽长比较小时,小范围改变发射极宽度对噪声系数(NF)改善微弱,但适当增长发射极条长和增加发射极条数明显降低了NF,且不牺牲增益.另外,与采用其他几何尺寸的SiGe HBT LNAs相比,选用器件发射极面积为AE =4μm×40μm×4的LNA性能最优,在0.2～1.2GHz内获得低至2.