TiO2介孔薄膜的制备及紫外光电响应性质 (2009年)

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文件名称：TiO2介孔薄膜的制备及紫外光电响应性质 (2009年)
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更新时间：2021-05-24 06:11:47
自然科学 论文 采用蒸发诱导自组装法制备了高度有序的TiO2介孔薄膜。利用X射线衍射(XRD)、扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)等分析手段对其进行了表征。结果表明,所得样品的孔径约为5nm,孔道规则,且骨架为纯锐钛矿结构。紫外-可见光谱(UV-Vis)的表征结果表明,制备的TiO2介孔薄膜对波长小于380nm的紫外线有很强的吸收。对TiO2介孔薄膜的I-V(电流-电压)特性进行了表征,发现加光后其I-V曲线由暗态时的肖特基特性转变为欧姆特性,表明TiO2介孔薄膜对紫外光有很敏感的光电响应。