文件名称：用光谱椭偏法表征的氧化钒-碳纳米管复合薄膜
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文件格式：PDF
更新时间：2024-06-18 09:04:24
spectroscopic ellipsometry; vanadium oxides; carbon
椭偏仪 (SE) 用于表征由溶胶-凝胶制备的氧化钒 (VOx)-单壁碳纳米管 (SWCNT) 复合膜。 五个 Tauc-Lorentz 振荡器模型用于描述 VOx 和 VOx-SWCNT 薄膜的光学响应中的色散。 结果表明，如果复合膜中单壁碳纳米管浓度增加，则折射率降低，而消光系数增加。 此外，较高的单壁碳纳米管含量导致较低的光学带隙（Eg）但较大的局域态（Ee）。 有趣的是，Eg 和 Ee 值在 SWCNT 含量接近 8 wt% 时达到饱和。 特别是，根据 VOx 的能带结构，5 个 Tauc-Lorentz 振荡器的峰值跃迁能量已分配给特定跃迁。 这项工作揭示了通过 SE 研究 VOx-SWCNT 复合薄膜的光学性能和微观结构的可行性。 这些实验结果将有助于更好地理解 VOx-SWCNT 复合薄膜，并促进 SE 对其他基于 SWCNT 的复合材料的未来表征。