文件名称：边界扫描器件BSDL描述在测试中的应用.txt
文件大小：8KB
文件格式：TXT
更新时间：2013-06-03 17:21:18
BSDL
边界扫描”是一种可测性设计技术，即在电子系统的设计阶段就考虑其测试问题[1]。 BSDL（boundary scan des cription language） 语言硬件描述语言（VHDL）的一个子集，是对边界扫描器件的边界扫描特性的描述，主要用来沟通边界扫描器件厂商、用户与测试工具之间的联系，其应用包括：厂商将BSDL描述作为边界扫描器件的一部分提供给用户；BSDL描述为自动测试图形生成（ATPG）工具测试特定的电路板提供相关信息；在BSDL 的支持下生成由IEEE1149.1标准定义的测试逻辑 [2]。现在，BSDL语言已经正式成为IEEE1149.1标准文件的附件。BSDL本身不是一种通用的硬件描述语言，但它可与软件工具结合起来用于测试生成、结果分析和故障诊断。每一边界扫描器件都附有特定的BSDL描述文件，为了论述的方便，本文将以Altera公司的CPLD器件 EPM7128SL84 芯片为例说明BSDL描述在测试中的应用。