边界扫描测试的原理及应用设计

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文件名称：边界扫描测试的原理及应用设计
文件大小：123KB
文件格式：PDF
更新时间：2012-08-19 12:44:07
边界扫描测试 　文章介绍了边界扫描测试的原理,分析了联合测试行动组J TAG控制器的逻辑状态,并给出了 J TAG测试具体应用的VHDL 原代码和逻辑仿真波形。利用J TAG接口可以方便地进行复杂IC 芯片连接的故障定位,灵活控制IC 芯片进入特定的功能模式等。