论文研究-基于FPGA的失效诊断系统架构 .pdf

时间:2022-09-04 07:27:12
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更新时间:2022-09-04 07:27:12

微电子学与固体电子学

基于FPGA的失效诊断系统架构,徐海君,郭筝,基于可测试性设计结构的失效诊断是现代集成电路尤其是先进工艺集成电路失效分析的主要手段之一。由于失效诊断需要设计信息和测试


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