一文读懂三种ASIC的可测试性设计方法

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文件名称：一文读懂三种ASIC的可测试性设计方法

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更新时间：2024-07-26 22:15:08

ASIC可测试性

随着VLSI的发展，可测性将成为芯片设计的主要依据，本文论述了ASIC可测性的三种设计方法，并对三种方法做出了比较，最后给出了一个使用的可测性设计环境TEN(TEST ENGINEERING ENVIRONMENT)