一文读懂三种ASIC的可测试性设计方法 时间:2021-07-07 04:28:28 【文件属性】: 文件名称:一文读懂三种ASIC的可测试性设计方法 文件大小:424KB 文件格式:PDF 更新时间:2021-07-07 04:28:28 ASIC可测试性 随着VLSI的发展,可测性将成为芯片设计的主要依据,本文论述了ASIC可测性的三种设计方法,并对三种方法做出了比较,最后给出了一个使用的可测性设计环境TEN(TEST ENGINEERING ENVIRONMENT) 立即下载