文件名称：论文研究-CMOS IC DESIGN FOR RELIABILITY - A REVIEW.pdf
文件大小：289KB
文件格式：PDF
更新时间：2022-09-05 03:41:26
CMOS IC
CMOS集成电路的稳定性设计，况维，，Negative bias temperature instability (NBTI), gate oxide breakdown (BD), and HCI (hot carrier injection) 对于 Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS)来说正在成为主�