论文研究-磁盘阵列性能测试工具研究.pdf

时间:2022-09-27 20:00:45
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更新时间:2022-09-27 20:00:45

论文研究

阐述了衡量高端磁盘阵列可靠性的重要指标MTTDL,通过分析两种造成磁盘错误的原因,建模计算了各种RAID级别的MTTDL,设计了磁盘读出错率的测试方案,实现了基于分布式的磁盘读出错率测试程序。


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