基础练习 芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

问题描述

#include<iostream>
#include<string>
#include<cstdio>
#include<cstring>
#include<set>
#define N 100
using namespace std;

int main()
{
	int i,j,n;
	int array[N][N];
	set<int> s;
	set<int> ::iterator  pos;
	s.clear();

	cin>>n;
	for(i=0;i<n;i++)
		for(j=0;j<n;j++)
			cin>>array[i][j];

	for(i=0;i<n;i++)
	{
		int flag=0;
		for(j=0;j<n;j++)
		{
			if( i!=j && array[i][j]==1 )
			{
				flag=1;
				if(array[j][i]!=1)
					break;
			}

		}
		if(j==n && flag==1)
			s.insert(i+1);
	}
	
	for(pos=s.begin();pos!=s.end();pos++)
		cout<<(*pos)<<" ";
	cout<<endl;

	return 0;
}