文件名称:基于微电铸的非硅MEMS加速度传感器
文件大小:792KB
文件格式:PDF
更新时间:2024-02-22 04:21:49
微电铸,加速度传感器,噪声,漂移,残差
简单介绍了Silicon Design公司开发的非硅MEMS传感器的设计、工艺、输出信号的处理技术。通过巧妙设计和使用铸Ni技术成功地改善了梁的扭摆特性。实测结果表明,10 *品的输出交流噪声有效值和漂移被分别控制在0.4 mV和4 mV;50 *品虽然漂移偏大,但其线性系数K2还是达到了10-3~10-4的水准。