基于Halcon的硒鼓缺陷检测与一维尺寸测量_朱先锋1

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文件名称：基于Halcon的硒鼓缺陷检测与一维尺寸测量_朱先锋1

文件大小：760KB

文件格式：PDF

更新时间：2022-08-03 13:50:57

摘要:为实现硒鼓表面缺陷检测和尺寸测量的自动化，运用图像处理算法中的数学形态学算子对硒鼓表面点缺陷和线缺陷进行精确检测与分类，并根据亚像素测量方法对硒鼓尺寸进行