文件名称：基于Halcon的硒鼓缺陷检测与一维尺寸测量 (2014年)
文件大小：814KB
文件格式：PDF
更新时间：2024-07-03 22:55:49
工程技术 论文
为实现硒鼓表面缺陷检测和尺寸测量的自动化,运用图像处理算法中的数学形态学算子对硒鼓表面点缺陷和线缺陷进行精确检测与分类,并根据亚像素测量方法对硒鼓尺寸进行精确测量,通过机器视觉专用软件Halcon和.NET开发了硒鼓缺陷自动检测与尺寸测量系统。测试结果表明,该方法与应用像素级测量法相比,其精度提高1~2个像素,具有精度高、 稳定性强等优点。