文件名称：数字逻辑芯片检测IC测试
文件大小：203KB
文件格式：ZIP
更新时间：2022-10-23 12:41:21
单片机 数字芯片 数电 逻辑芯片
可以检测数电常用的数字芯片，检测功能的完整性。74LS00 等常用的18种数字逻辑芯片，已经得到验证，同时做了反接断电处理，防止反接而烧坏芯片。 使用STC15F2K60S2芯片做主控芯片，使用OLED屏幕显示芯片型号和芯片情况。
【文件预览】：
main.c
OLED
----oled.c(6KB)
----bmp.c(5KB)
----display.h(164B)
----oled.h(2KB)
----display.c(2KB)
----oledfont.h(16KB)
74XX
----74xx.c(26KB)
----LogicalSettings.h(1KB)
----LogicalSettings.c(17KB)
----74xx.H(5KB)
UART
----uart.h(315B)
----uart.c(3KB)
ADC
----ADC.h(578B)
----ADC.c(2KB)
Objects
----74xx.__i(219B)
----74xxTesting.hex(58KB)
----bmp.obj(2KB)
----oled.obj(25KB)
----main.obj(20KB)
----LogicalSettings.obj(39KB)
----uart.obj(11KB)
----ADC.obj(8KB)
----74xxTesting.build_log.htm(1KB)
----display.obj(21KB)
----bmp.__i(216B)
----74xxTesting(187KB)
----74xx.obj(84KB)
----74xxTesting.lnp(276B)
74xxTesting.uvopt
74xxTesting.uvgui.Administrator
74xxTesting.uvproj
main.h
Listings
----uart.lst(6KB)
----bmp.lst(7KB)
----ADC.lst(4KB)
----main.lst(3KB)
----74xx.lst(42KB)
----display.lst(4KB)
----74xxTesting.m51(92KB)
----oled.lst(11KB)
----LogicalSettings.lst(27KB)
STC15F2K60S2.h