非简谐振动对硅晶体肖脱基缺陷浓度的影响 (1999年)

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文件名称：非简谐振动对硅晶体肖脱基缺陷浓度的影响 (1999年)
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文件格式：PDF
更新时间：2021-05-23 08:16:20
自然科学 论文 应用统计物理理论,导出了考虑原子作非简谐振动情况下,晶体中肖脱基缺陷数的统计计算公式;以硅晶体为例,讨论了原子的非简谐振动对肖脱基缺陷浓度的影响.结果表明:考虑了原子作非简谐振动后,所得到的肖脱基缺陷浓度计算公式更切合实际。