论文研究-一种有效的老化路径约减方法 .pdf

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文件名称：论文研究-一种有效的老化路径约减方法 .pdf

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更新时间：2022-09-05 08:18:33

老化预测

一种有效的老化路径约减方法，邢璐，梁*，随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小，电路可靠性问题日益严重，而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出。由于实际电路大多比较复�