定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现 (2006年)

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文件名称：定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现 (2006年)
文件大小：3.32MB
文件格式：PDF
更新时间：2021-05-23 23:25:00
自然科学 论文 在内建自测试的基本原理上实现了一种有效地适用于16位定点DSP的BIST设计方案，包括内部逻辑的BIST设计和Memory的BIST设计；通过与IEEE 1149.1兼容的边界扫描技术来对BIST实现控制，并提供电路板级的测试。测试结果证明，该设计的故障覆盖率达到了98%以上，确保了DSP芯片的品质。