集成电路高层故障模型评估方法 (2006年)

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文件名称：集成电路高层故障模型评估方法 (2006年)

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更新时间：2024-06-14 19:49:31

工程技术 论文

给出了利用测试向量进行评估的基本理论方法，以及强对应集和弱对应集的定义及推论。按该方法，依不同模型生成测试向量，然后进行相互间的覆盖计算，以比较模型的优劣。最后对ITC99-benchmark电路进行实验，结果表明该方法是有效的。