TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量 (1999年)

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文件名称：TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量 (1999年)

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更新时间：2024-07-01 21:40:27

自然科学 论文

描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用．利用薄膜在可见光范围内的光谱特性使用曲线拟合技术对它的光学常数进行了测量．研究结果表明，这种方法可以简单、高效地应用于对薄膜厚度及其光学常数的测量．