文件名称：聚苯胺薄膜厚度的表征及原位生长 (2010年)
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更新时间：2024-05-14 04:08:54
自然科学 论文
以石英基片为衬底，分别在常压0．1 MPa和500 MPa高压条件下采用原位聚合法制备聚苯胺(PANI)薄膜．通过对PANI薄膜的厚度进行原子力显微镜的直接测量和光谱的间接表征，建立了薄膜厚度df(nm)与薄膜UV- Vis吸收光谱中400 nm处吸收强度A400间的关系：dr=548A400(0．1 MPa)及df=341A400(500 MPa)．根据这一关系进一步测量了薄膜的生长曲线，并通过扫描电镜(SEN)形貌观测和电导率测试，研究了原位聚合PANI薄膜在不同合成压力下的生长及导电特性．