CMOS电路中的闩锁效应研究

【文件属性】：

文件名称：CMOS电路中的闩锁效应研究

文件大小：212KB

文件格式：PDF

更新时间：2012-11-03 14:20:16

闩锁效应

闩锁效应是功率集成电路中普遍存在的问题。文中分析了CMOS 结构中的闩锁效应的起因， 提取了用于分析闩锁效应的集总器件模型，给出了产生闩锁效应的必要条件，列举了闩锁效应的几种测 试方法。最后，介绍了避免发生闩锁效应的几种方法。