CMOS集成电路的闩锁效应

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文件名称：CMOS集成电路的闩锁效应

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更新时间：2014-08-18 15:26:23

CMOS集成电路的闩锁效应

在CMOS集成电路的使用中，对CMOS集成电路的闩锁效应应特别加以重视。根据中国空间技术研究院1987～1990年卫星用CMOS集成电路失效模式和失效机理分布统计，因闩锁效应造成的CMOS集成电路失效数占总失效数的27.5％。因此，了解CMOS集成电路的闩锁效应，预防CMOS集成电路闩锁效应的发生，对提高产品的可靠性具有十分重要的意义。