文件名称：锆钛酸铅的纯铁电回线分析 (2008年)
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更新时间：2024-07-02 07:13:06
自然科学 论文
在0-150 ℃范围测量了Pb ( Zr0.48Ti0. 52 ) O3 ( PZT )陶瓷薄片的电滞回线和微分电滞回线。发现电滞回线高度在升温过程中出现升高的现象,这与铁电唯象理论相矛盾。为此提出精确测定纯铁电参数的方法,该方法可分离出回线中直流电导,非铁电性电容的影响,从而得到纯铁电效应的信号。实验结果与PZT中准同型相界的存在相吻合。