电场作用下CSP的失效行为 (2014年)

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文件名称：电场作用下CSP的失效行为 (2014年)
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更新时间：2021-05-13 04:06:28
工程技术 论文 主要研究95.5Sn3.8Ag0.7Cu焊球电迁移过程和焊点的失效行为，发现焊点的电迁移过程主要分为3个阶段：微孔洞的孕育与形成、孔洞的聚集和快速失效阶段。Cu6Sn5生长速率随着环境温度的升高而增大，Cu3Sn在UBM和Cu6Sn5的界面处也随着Cu6Sn5的长大而生成并生长，PCB侧的Cu焊盘在电子风的作用下溶解。焊点的失效模式主要为焊盘的溶解、焊球两个界面的裂纹生长断裂和焊球的熔化。